Experimente uma confiabilidade excepcional com o Enplas IC Test & Burn-in Socket, feito especialmente para pacotes QFP64, TQFP64, FQFP64 e PQFP64. Sua construção robusta garante alinhamento preciso e conexões seguras, tornando-o ideal para aplicações de teste e burn-in.
Principais benefícios:
- Alta resistência térmica para uso prolongado durante cenários de testes rigorosos.
- Otimizado para dissipar calor de forma rápida e eficiente, aumentando a vida útil do chip.
- Contatos duráveis para garantir um desempenho consistente e mínima distorção do sinal.
Especificações:
- Compatível com dispositivos QFP de 64 pinos padrão da indústria.
- Projetado para fácil inserção e remoção, reduzindo o risco de danos ao dispositivo.
- O design compacto e leve facilita o manuseio e a instalação.
Exemplos de uso:
- Ideal para ambientes que precisam testar dispositivos com frequência, como laboratórios de P&D.
- Essencial para garantir a confiabilidade do dispositivo em condições de alto estresse.
- Facilita a integração perfeita em equipamentos de teste automatizados.