O soquete de teste e burn-in de CI para embalagem DIP20 garante testes confiáveis com conectividade perfeita. Este soquete durável é feito para ser eficiente, oferecendo um encaixe seguro para seus circuitos integrados.
Principais benefícios:
- Alta condutividade para resultados de teste precisos.
- Construção durável para uso repetido sem desgaste.
- Inserção e extração fácil de CIs, economizando seu tempo precioso.
Uso Ideal:
- Testes de protótipo nos laboratórios de desenvolvimento.
- Teste de burn-in para garantir a longevidade dos CIs.
Especificações:
- Tipo de pacote: DIP20.
- Materiais robustos para resistir a testes intensivos.
- Tamanho compacto para caber em vários ambientes de teste.